激光粒度仪粒径测量范围:0.1-400umTS-W2群弘仪器

本仪器符合但并不局限于以下标准：

ISO 13320-2009     G/BT 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
 

技术参数：

1.   理论依据:Mie散射理论

2.   粒径测量范围:0.1-400um

3.   光源:半导体制冷恒温控制红光固体激光光源，波长635nm

4.   重复性误差:<1%（标准D50偏差）

5.   测量误差:<1%（标准D50偏差，用国家标准颗粒检验）

6.   检测器:32或48或64或更高通道硅光电二极管

7.   样品池:滴样法样品池10mL；循环样品池（500mL内置超声分散、搅拌装置）

8.   测量分析时间：正常条件下小于1分钟（从开始测量到显示分析结果）

9.   输出内容：体积、数量微分分布和累积分布表和图表；多种统计平均直径；操作者信息；实验样品信息、分散介质信息等。

10. 显示方式：内嵌10.8寸工业级别的电脑，可连接键盘、鼠标、U盘

11. 电脑系统：WIN 10系统，30GB硬盘容量、2GB系统内存

12. 电源：220V，50 Hz

工作条件：

l  1.室内温度：15℃-35℃

l  2.相对温度：不大于85%（无冷凝）

l  3.建议用交流稳压电源1KV，无强磁场干扰。

l  4.由于在微米级的范围内的测量，仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上，并且在少尘条件下进行测量。

l  5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。

l  6.设备必须接地，保证安全和高精度。