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详细信息
技术参数:
型号
TS-DW2
理论依据
Mie散射理论
粒径测量范围
0.1-400um
光源
半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm
重复性误差
<1%(标准D50偏差)
测量误差
<1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验)
检测器
32或48通道硅光电二极管
样品池
固定样品池10mL、循环样品池(500mL内置超声分散装置)、干法样品池
测量分析时间
正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果)
输出内容
体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。
显示方式
内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘
电脑系统
WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存
电源
220V,50 Hz
工作环境:l 1.室内温度:15℃-35℃
l 2.相对温度:不大于85%(无冷凝)
l 3.建议用交流稳压电源1KV,无强磁场干扰。
l 4.由于在微米级的范围内的测量,仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上,并且在少尘条件下进行测量。
l 5.仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。
l 6.设备必须接地,保证安全和高精度。
l 7.室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。