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    技术参数:

    型号

    TS-DW4

    理论依据

    Mie散射理论

    粒径测量范围

    0.1-1000um

    光源

    半导体制冷恒温控制红光固体激光光源,波长635nm

    重复性误差

    <1%(标准D50偏差)

    测量误差

    <1%(标准D50偏差,用国家标准颗粒检验)

    检测器

    32或48通道硅光电二极管

    样品池

    固定样品池10mL、循环样品池(500mL内置超声分散装置)、干法样品池

    测量分析时间

    正常条件下小于1分钟(从开始测量到显示分析结果)

    输出内容

    体积、数量微分分布和累积分布表和图表;多种统计平均直径;操作者信息;实验样品信息、分散介质信息等。

    显示方式

    内嵌10.8寸工业级别的电脑,可连接键盘、鼠标、U盘

    电脑系统

    WIN 10系统,30GB硬盘容量、2GB系统内存

    电源

    220V,50 Hz

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